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20090001_0678

© Cyril FRESILLON/CNRS Images

Référence

20090001_0678

Caractérisation électrique statique sous pointes de composants semi-conducteurs.

Caractérisation électrique statique sous pointes de composants semi-conducteurs.

Délégation(s)

Thématiques scientifiques

Issues du même reportage : Laboratoire d'analyse et d'architecture des systèmes du CNRS (LAAS-CNRS)

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