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20090001_0679
© Cyril FRESILLON/CNRS Images

Station sous pointes dédiée à la caractérisation électrique statique de micro et nanosystèmes.

Référence

20090001_0679

Année de production

2009

Taille maximale

36.31 x 24.11 cm / 300 dpi

Légende

Station sous pointes dédiée à la caractérisation électrique statique de micro et nanosystèmes.

Institut(s)

Délégation(s)

Thématiques scientifiques

Issues du même reportage : Laboratoire d'analyse et d'architecture des systèmes du CNRS (LAAS-CNRS)

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