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20090001_0679

© Cyril FRESILLON/CNRS Images

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20090001_0679

Station sous pointes dédiée à la caractérisation électrique statique de micro et nanosystèmes.

Station sous pointes dédiée à la caractérisation électrique statique de micro et nanosystèmes.

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From the same photo report: Laboratoire d'analyse et d'architecture des systèmes du CNRS (LAAS-CNRS)

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