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20090001_0678
Caractérisation électrique statique sous pointes de composants semi-conducteurs.

Vue détaillée d'une mesure sous pointes en hyperfréquences. Au dessus du plateau de la station sous…
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20090001_0686
Vue détaillée d'une mesure sous pointes en hyperfréquences. Au dessus du plateau de la station sous

Deux stations sous pointes pour la caractérisation électrique statique de micro et nanosystèmes. La…
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20090001_0675
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