Le Groupe d'études de la matière condensée (GEMaC)

Bâtiments du laboratoire GEMaC, Groupe d'études de la matière condensée, à Versailles.

Insertion d'une canne porte-échantillon dans un système de mesure des propriétés physiques, PPMS (Physical property measurement system). Ici , l'échantillon est inséré pour déterminer ses propriétés électriques. Les matériaux étudiés sont en général des couches minces, des semiconducteurs et des oxydes.

Mise en place d'une tête VSM (Vibrating sample magnetometer) sur un système de mesure des propriétés physiques, PPMS (Physical property measurement system). Cette configuration permet d'effectuer des mesures du magnétisme de l'échantillon. Les matériaux étudiés sont en général des semiconducteurs et des oxydes.

Insertion d'une canne porte-échantillon dans un système de mesure des propriétés physiques, PPMS (Physical property measurement system) équipé d'une tête VSM (Vibrating sample magnetometer). Cette configuration permet d'effectuer des mesures du magnétisme de l'échantillon. Les matériaux étudiés sont en général des semiconducteurs et des oxydes.

Insertion d'une canne porte-échantillon dans un système de mesure des propriétés physiques, PPMS (Physical property measurement system) équipé d'une tête VSM (Vibrating sample magnetometer). Cette configuration permet d'effectuer des mesures du magnétisme de l'échantillon. Les matériaux étudiés sont en général des semiconducteurs et des oxydes.

Poste de contrôle d'un système de mesure des propriétés physiques, PPMS (Physical property measurement system) équipé d'une tête VSM (Vibrating sample magnetometer). Cette configuration permet d'effectuer des mesures du magnétisme de l'échantillon. Ici, à l'écran une courbe d'hystérésis, cette courbe est caractéristique, elle montre que c'est un échantillon ferro-magnétique qui est étudié. Les matériaux étudiés sont en général des semiconducteurs et des oxydes.

Centrage d'un échantillon qui sera ensuite mis sur une canne porte-échantillon. Ici, c'est un étalon de nickel permettant d'étalonner le système de mesure des propriétés magnétiques, PPMS (Physical property measurement system) option VSM (Vibrating sample magnetometer).

Centrage d'un échantillon qui sera ensuite mis sur une canne porte-échantillon. Ici, c'est un étalon de nickel permettant d'étalonner le système de mesure des propriétés magnétiques, PPMS (Physical property measurement system) option VSM (Vibrating sample magnetometer).

Mise en place d'un échantillon de nickel sur une canne porte-échantillon qui sera insérée dans un système de mesure des propriétés magnétiques, PPMS (Physical property measurement system) option VSM (Vibrating sample magnetometer). Cet étalon de nickel permet de calibrer la machine.

Insertion d'une canne avec un échantillon de nickel dans un système de mesure des propriétés magnétiques, PPMS (Physical property measurement system) option VSM (Vibrating sample magnetometer). Cet étalon de nickel permet de calibrer la machine.

Insertion d'une canne avec un échantillon de nickel dans un système de mesure des propriétés magnétiques, PPMS (Physical property measurement system) option VSM (Vibrating sample magnetometer). Cet étalon de nickel permet de calibrer la machine.

Microscope confocal permettant d'effectuer des mesures des propriétés optiques sur des nanocristaux. Ici, ce sont les propriétés de la statistique temporelle des photons individuels qui sont étudiées. Ces échantillons peuvent être utilisés en optique quantique ou en tant que marqueurs fluorescents pour la biologie.

Observation au microscope confocal d'un échantillon de nanocristaux. Cette installation permet d'effectuer des mesures des propriétés optiques sur des nanocristaux. Ici, ce sont les propriétés de la statistique temporelle des photons individuels qui sont étudiées. Ces échantillons peuvent être utilisés en optique quantique ou en tant que marqueurs fluorescents pour la biologie.

Observation au microscope confocal d'un échantillon de nanocristaux. Cette installation permet d'effectuer des mesures des propriétés optiques sur des nanocristaux. Ici, ce sont les propriétés de la statistique temporelle des photons individuels qui sont étudiées. Ces échantillons peuvent être utilisés en optique quantique ou en tant que marqueurs fluorescents pour la biologie.

Analyseur ionique de dernière génération. Cet appareillage permet d'analyser les matériaux solides, supportant la mise sous vide poussé, par la technique de Spectrométrie de masse d'ions secondaires (SIMS). Il permet d'analyser la composition chimique de divers matériaux, des semiconducteurs, des verres... Le but est de déterminer la composition d'un échantillon.

Analyseur ionique de dernière génération. Cet appareillage permet d'analyser les matériaux solides, supportant la mise sous vide poussé, par la technique de Spectrométrie de masse d'ions secondaires (SIMS). Il permet d'analyser la composition chimique de divers matériaux, des semiconducteurs, des verres... Le but est de déterminer la composition d'un échantillon.

Analyseur ionique de dernière génération. Cet appareillage permet d'analyser les matériaux solides, supportant la mise sous vide poussé, par la technique de Spectrométrie de masse d'ions secondaires (SIMS). Il permet d'analyser la composition chimique de divers matériaux, des semiconducteurs, des verres... Le but est de déterminer la composition d'un échantillon.

Analyseur ionique de dernière génération. Cet appareillage permet d'analyser les matériaux solides, supportant la mise sous vide poussé, par la technique de Spectrométrie de masse d'ions secondaires (SIMS). Il permet d'analyser la composition chimique de divers matériaux, des semiconducteurs, des verres... Le but est de déterminer la composition d'un échantillon.

Analyseur ionique de dernière génération. Cet appareillage permet d'analyser les matériaux solides, supportant la mise sous vide poussé, par la technique de Spectrométrie de masse d'ions secondaires (SIMS). Il permet d'analyser la composition chimique de divers matériaux, des semiconducteurs, des verres... Le but est de déterminer la composition d'un échantillon.

Poste de contrôle d'un analyseur ionique de dernière génération. Cet appareillage permet d'analyser les matériaux solides, supportant la mise sous vide poussé, par la technique de Spectrométrie de masse d'ions secondaires (SIMS). Il permet d'analyser la composition chimique de divers matériaux, des semiconducteurs, des verres... Le but est de déterminer la composition d'un échantillon.

Poste de contrôle d'un analyseur ionique de dernière génération. Cet appareillage permet d'analyser les matériaux solides, supportant la mise sous vide poussé, par la technique de Spectrométrie de masse d'ions secondaires (SIMS). Il permet d'analyser la composition chimique de divers matériaux, des semiconducteurs, des verres... Le but est de déterminer la composition d'un échantillon.

Etude d'une transition de phase induite par la température, en ellipsométrie sur couche mince. Un faisceau de lumière blanche polarisé (à droite) est projeté sur l'échantillon. La polarisation après réflexion est déterminée par un analyseur (à gauche). L'étude des changements de polarisation après reflexion, permet de remonter aux propriétés optiques du matériau avant et après transition. Sur l'écran, on peut apercevoir un spectre. L'objectif est l'étude fondamentale des transitions de phase…

Etude d'une transition de phase induite par la température, en ellipsométrie sur couche mince. Un faisceau de lumière blanche polarisé (à droite) est projeté sur l'échantillon. La polarisation après réflexion est déterminée par un analyseur (à gauche). L'étude des changements de polarisation après reflexion, permet de remonter aux propriétés optiques du matériau avant et après transition. Sur l'écran, on peut apercevoir un spectre. L'objectif est l'étude fondamentale des transitions de phase…

Etude d'une transition de phase induite par la température, en ellipsométrie sur couche mince. Un faisceau de lumière blanche polarisé (à droite) est projeté sur l'échantillon. La polarisation après réflexion est déterminée par un analyseur (à gauche). L'étude des changements de polarisation après reflexion, permet de remonter aux propriétés optiques du matériau avant et après transition. Sur l'écran, on peut apercevoir un spectre. L'objectif est l'étude fondamentale des transitions de phase…

Etude d'une transition de phase induite par la température, en ellipsométrie sur couche mince. Un faisceau de lumière blanche polarisé (à droite) est projeté sur l'échantillon. La polarisation après réflexion est determinée par un analyseur (à gauche). Le collimateur (en haut) est utilisé pour régler la planarité de l'échantillon. L'étude des changements de polarisation après reflexion permet de remonter aux propriétés optiques du matériau avant et après transition. L'objectif est l'étude…

Provisoire : Introduction d'un échantillon de billes d'or sur du carbone, dont la dimension est de l'ordre de quelques nanomètres, dans le sas d'un microscope électronique à balayage (MEB). L'objectif est d'étudier les propriétés de cet échantillon, de donner une idée de l'état de sa surface et des objets, la taille des grains etc.

Provisoire : Fermeture du sas d'un microscope électronique à balayage (MEB). Un échantillon de billes d'or sur du carbone, dont la dimension est de l'ordre de quelques nanomètres, a été déposé sur le porte échantillon. L'objectif est d'étudier les propriétés de cet échantillon, de donner une idée de l'état de sa surface et des objets, la taille des grains etc.

Provisoire : Introduction d'un échantillon de billes d'or sur du carbone, dont la dimension est de l'ordre de quelques nanomètres, dans un microscope électronique à balayage (MEB). L'objectif est d'étudier les propriétés de cet échantillon, de donner une idée de l'état de sa surface et des objets, la taille des grains etc.

Provisoire : Microscope électronique à balayage (MEB) avec lequel sont étudiés des échantillons dont les dimensions sont de l'ordre de quelques nanomètres. L'objectif est d'étudier les propriétés de ces échantillons, de donner une idée de l'état de leur surface et des objets, la taille des grains etc.

Provisoire : Visualisation d'un échantillon de billes d'or sur du carbone, dont la dimension est de l'ordre de quelques nanomètres, introduit dans un microscope électronique à balayage (MEB). L'objectif est d'étudier les propriétés de cet échantillon, de donner une idée de l'état de sa surface et des objets, la taille des grains etc.

Visualisation d'un échantillon de billes d'or sur du carbone, dont la dimension est de l'ordre de quelques nanomètres, introduit dans un microscope électronique à balayage (MEB). L'objectif est d'étudier les propriétés de cet échantillon, de donner une idée de l'état de sa surface et des objets, la taille des grains etc.

Appareil de mesure de l'effet Hall à haute température et haute impédance. Il permet de mesurer la résistivité, la concentration des porteurs de charge et leur mobilité. Les échantillons étudiés sont des semiconducteurs à grand gap (ou à large bande interdite) et des oxydes.

Appareil de mesure de l'effet Hall à haute température et haute impédance. Il permet de mesurer la résistivité, la concentration des porteurs de charge et leur mobilité. Les échantillons étudiés sont des semiconducteurs à grand gap (ou à large bande interdite) et des oxydes.

Cellule de mesures électriques, dans laquelle est installé un échantillon de couches minces d'oxyde de zinc. La cellule sera ensuite insérée dans un appareil de mesure de l'effet Hall à haute température et haute impédance qui permet de mesurer la résistivité, la concentration des porteurs de charge et leur mobilité. Les échantillons étudiés sont des semiconducteurs à grand gap (ou à large bande interdite) et des oxydes.

Installation de couches minces d'oxyde de zinc dans une cellule de mesures électriques. La cellule sera ensuite insérée dans un appareil de mesure de l'effet Hall à haute température et haute impédance. L'objectif est de mesurer la résistivité, la concentration de porteurs de charge et leur mobilité. Les échantillons étudiés sont des semiconducteurs à grand gap (ou à large bande interdite) et des oxydes.

Installation de couches minces d'oxyde de zinc dans une cellule de mesures électriques. La cellule sera ensuite insérée dans un appareil de mesure de l'effet Hall à haute température et haute impédance. L'objectif est de mesurer la résistivité, la concentration de porteurs de charge et leur mobilité. Les échantillons étudiés sont des semiconducteurs à grand gap (ou à large bande interdite) et des oxydes.

Installation de couches minces d'oxyde de zinc dans une cellule de mesures électriques. La cellule sera ensuite insérée dans un appareil de mesure de l'effet Hall à haute température et haute impédance. L'objectif est de mesurer la résistivité, la concentration de porteurs de charge et leur mobilité. Les échantillons étudiés sont des semiconducteurs à grand gap (ou à large bande interdite) et des oxydes.

Un échantillon de couches minces d'oxyde de zinc, inséré dans une cellule, est installé dans un appareil de mesure de l'effet Hall à haute température et haute impédance. L'objectif est de mesurer la résistivité, la concentration de porteurs de charge et leur mobilité. Les échantillons étudiés sont des semiconducteurs à grand gap (ou à large bande interdite) et des oxydes.

Bâti d'ablation laser pulsé, dépôt laser pulsé pour l'élaboration d'oxydes fonctionnels en couches minces. Le laser irradie une cible d'un matériau donné. Sous l'effet du laser, la matière se vaporise et se dépose en couche mince sur un substrat. Il est possible de suivre en temps réel la croissance des couches, par la diffraction d'électrons RHEED et l'ellipsométrie. L'élaboration de ces matériaux est effectuée pour l'étude et le contrôle des propriétés fondamentales des oxydes fonctionnels et…

Bâti d'ablation laser pulsé, dépôt laser pulsé pour l'élaboration d'oxydes fonctionnels en couches minces. Le laser irradie une cible d'un matériau donné. Sous l'effet du laser, la matière se vaporise et se dépose en couche mince sur un substrat. Il est possible de suivre en temps réel la croissance des couches, par la diffraction d'électrons RHEED et l'ellipsométrie. L'élaboration de ces matériaux est effectuée pour l'étude et le contrôle des propriétés fondamentales des oxydes fonctionnels et…

Plume d'ablation laser. Un laser pulsé de forte puissance irradie une cible d'un matériau donné. Sous l'effet du laser, la matière se vaporise et se dépose en couche mince sur un substrat placé en vis-à-vis et porté à haute température. Il est possible de suivre en temps réel la croissance des couches, par la diffraction d'électrons RHEED et l'ellipsométrie. L'élaboration de ces matériaux est effectuée pour l'étude et le contrôle des propriétés fondamentales des oxydes fonctionnels et…