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20120001_1702
© Cyril FRESILLON/CNRS Images

Un échantillon de couches minces d'oxyde de zinc, inséré dans une cellule, est installé dans un appa

Référence

20120001_1702

Année de production

2012

Taille maximale

27.77 x 41.72 cm / 300 dpi

Légende

Un échantillon de couches minces d'oxyde de zinc, inséré dans une cellule, est installé dans un appareil de mesure de l'effet Hall à haute température et haute impédance. L'objectif est de mesurer la résistivité, la concentration de porteurs de charge et leur mobilité. Les échantillons étudiés sont des semiconducteurs à grand gap (ou à large bande interdite) et des oxydes.

Institut(s)

Thématiques scientifiques

Issues du même reportage : Le Groupe d'études de la matière condensée (GEMaC)

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