Voir le reportage
20120001_1679
© Cyril FRESILLON/CNRS Images

Analyseur ionique de dernière génération. Cet appareillage permet d'analyser les matériaux solides,

Référence

20120001_1679

Année de production

2012

Taille maximale

27.77 x 41.72 cm / 300 dpi

Légende

Analyseur ionique de dernière génération. Cet appareillage permet d'analyser les matériaux solides, supportant la mise sous vide poussé, par la technique de Spectrométrie de masse d'ions secondaires (SIMS). Il permet d'analyser la composition chimique de divers matériaux, des semiconducteurs, des verres... Le but est de déterminer la composition d'un échantillon.

Institut(s)

Thématiques scientifiques

Issues du même reportage : Le Groupe d'études de la matière condensée (GEMaC)

CNRS Images,

Nous mettons en images les recherches scientifiques pour contribuer à une meilleure compréhension du monde, éveiller la curiosité et susciter l'émerveillement de tous.