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Reference
20120001_1679
Analyseur ionique de dernière génération. Cet appareillage permet d'analyser les matériaux solides,
Analyseur ionique de dernière génération. Cet appareillage permet d'analyser les matériaux solides, supportant la mise sous vide poussé, par la technique de Spectrométrie de masse d'ions secondaires (SIMS). Il permet d'analyser la composition chimique de divers matériaux, des semiconducteurs, des verres... Le but est de déterminer la composition d'un échantillon.
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