Extrémité du porte-échantillon d'un microscope électronique en transmission

Extrémité du porte-échantillon d'un microscope électronique en transmission. Une fine lame du matériau semiconducteur à analyser est fixée à l'extrémité du porte-échantillon. Dans le cas de nanomatériaux, il suffit de disperser ces objets, de quelques nanomètres à quelques dizaines de nanomètres d'épaisseur, sur un support transparent aux électrons (une fine membrane de carbone par exemple). Dans le microscope, deux axes de rotation permettront d'orienter les axes cristallographiques de l'échantillon par rapport au faisceau d'électrons.