Année de production
2012
© Cyril FRESILLON/CNRS Images
20120001_1105
Ellipsomètre permettant d'analyser des surfaces de façon non destructive. L'ellipsométrie est une technique optique d'analyse fondée sur la mesure du changement de l'état de polarisation de la lumière, après réflexion sur une surface plane. Le faisceau laser d'un ellipsomètre à une seule longueur d'onde (632,8 nm) est réfléchie sur la surface d'un échantillon avant d'être analysé et détecté. Cet instrument est utilisé quotidiennement pour la mesure en routine, de l'épaisseur d'un revêtement de quelques nanomètres à quelques micromètres.
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2012
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