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20120001_1105
© Cyril FRESILLON/CNRS Photothèque

Ellipsomètre permettant d'analyser des surfaces de façon non destructive. L'ellipsométrie est une te

Reference

20120001_1105

Production year

2012

Max. size

31.7 x 47.55 cm / 300 dpi

Caption

Ellipsomètre permettant d'analyser des surfaces de façon non destructive. L'ellipsométrie est une technique optique d'analyse fondée sur la mesure du changement de l'état de polarisation de la lumière, après réflexion sur une surface plane. Le faisceau laser d'un ellipsomètre à une seule longueur d'onde (632,8 nm) est réfléchie sur la surface d'un échantillon avant d'être analysé et détecté. Cet instrument est utilisé quotidiennement pour la mesure en routine, de l'épaisseur d'un revêtement de quelques nanomètres à quelques micromètres.

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