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20120001_1107
© Cyril FRESILLON/CNRS Photothèque

Microscope à force atomique (AFM) multimode, Nanoscope V, utilisé pour la caractérisation de surface

Référence

20120001_1107

Année de production

2012

Taille maximale

31.7 x 47.55 cm / 300 dpi

Légende

Microscope à force atomique (AFM) multimode, Nanoscope V, utilisé pour la caractérisation de surfaces de polymères en milieu liquide (ADN, multicouches de polyélectrolytes...).

Institut(s)

Délégation(s)

Thématiques scientifiques

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