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Reference
20210117_0012
Choix et placement des pointes de test au niveau d'un composant à semiconducteur qui va être testé
Choix et placement des pointes de test au niveau d'un composant à semiconducteur qui va être testé. Ce dispositif est une station de tests sous pointes, haute tension, haute température et vide secondaire, qui permet de réaliser des mesures diélectriques, sur des échantillons de matériaux isolants ou de composants à semiconducteur passivés utilisés dans la conversion d'énergie.
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