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20210117_0012
© Frédéric MALIGNE / LAPLACE / CNRS Images

Choix et placement des pointes de test au niveau d'un composant à semiconducteur qui va être testé

Référence

20210117_0012

Année de production

2019

Taille maximale

56.9 x 37.93 cm / 300 dpi

Légende

Choix et placement des pointes de test au niveau d'un composant à semiconducteur qui va être testé. Ce dispositif est une station de tests sous pointes, haute tension, haute température et vide secondaire, qui permet de réaliser des mesures diélectriques, sur des échantillons de matériaux isolants ou de composants à semiconducteur passivés utilisés dans la conversion d'énergie.

Institut(s)

Délégation(s)

Thématiques scientifiques

Issues du même reportage : Laboratoire plasma et conversion d'énergie

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