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20120001_1815

© Cyril FRESILLON/CNRS Images

Reference

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MEB (Microscope électronique à balayage) permettant de caractériser les échantillons en cours ou en

MEB (Microscope électronique à balayage) permettant de caractériser les échantillons en cours ou en fin de process, en salle blanche. Il permet d'obtenir des images topographiques d'une résolution maximale de 10 nm et de réaliser une analyse élémentaire grâce à l'EDS (Energy dispersive spectroscopy).

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From the same photo report: The FEMTO-ST Institute Franche-Comté Electronics Mechanics Thermal Science and Optics – Sciences and Technologies

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