L'url de cette page a bien été copiée dans votre presse-papier!
Reference
20120001_1801
Echantillon placé à l'intérieur d'un Dual Beam, un bâti composé de deux faisceaux : microscope élect
Echantillon placé à l'intérieur d'un Dual Beam, un bâti composé de deux faisceaux : microscope électronique à balayage (MEB) et focused ion beam (FIB) ou faisceau d'ions focalisé. Il permet de réaliser des images et de graver la matière à haute résolution, les résolutions respectives étant 1 nm et 4 nm. Les principales applications sont la caractérisation haute résolution d'échantillons et la gravure localisée, notamment pour des applications en nanophotonique.
The use of media visible on the CNRS Images Platform can be granted on request. Any reproduction or representation is forbidden without prior authorization from CNRS Images (except for resources under Creative Commons license).
No modification of an image may be made without the prior consent of CNRS Images.
No use of an image for advertising purposes or distribution to a third party may be made without the prior agreement of CNRS Images.
Our work is guided by the way scientists question the world around them and we translate their research into images to help people to understand the world better and to awaken their curiosity and wonderment.
