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20160097_0041
© Frédérique PLAS / ETIS / UCP / ENSEA / CNRS Photothèque

Station sous pointes utilisée pour la caractérisation de circuits intégrés

Référence

20160097_0041

Année de production

2016

Taille maximale

32.51 x 48.77 cm / 300 dpi

Légende

Station sous pointes utilisée pour la caractérisation de circuits intégrés. Le microscope binoculaire permet de pouvoir observer précisément les pointes et le circuit pour un positionnement précis. Une station permet de positionner les pointes afin qu'elles soient mises en contact électrique avec le circuit avec une précision de l'ordre de 10 à 20 µm. Suivant l’application, les mesures électriques permettent de caractériser les performances d’un circuit (gain, linéarité…) ou d’obtenir des informations sur le comportement électrique de composants afin d’en déduire un modèle électrique équivalent.

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