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Référence
20130001_2126
Alignement d'un échantillon (cristal) dans le faisceau de rayons X d'un diffractomètre. Ce diffracto
Alignement d'un échantillon (cristal) dans le faisceau de rayons X d'un diffractomètre. Ce diffractomètre de rayons X permet d'étudier la structure de la matière à l'échelle atomique et moléculaire et à basse température (jusqu'à -190°C).
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