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Référence
20130001_2130
Diffractomètre de rayons X permettant d'étudier la structure de la matière, notamment des cristaux,
Diffractomètre de rayons X permettant d'étudier la structure de la matière, notamment des cristaux, à l'échelle atomique et moléculaire et à basse température (jusqu'à -190°C). Ici, gros plan sur la source de rayons X (à gauche), la tête goniométrique (au centre) et le détecteur (à droite).
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