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20130001_2130
© Jean-Claude MOSCHETTI/CNRS Images

Diffractomètre de rayons X permettant d'étudier la structure de la matière, notamment des cristaux,

Référence

20130001_2130

Année de production

2013

Taille maximale

41.59 x 62.31 cm / 300 dpi

Légende

Diffractomètre de rayons X permettant d'étudier la structure de la matière, notamment des cristaux, à l'échelle atomique et moléculaire et à basse température (jusqu'à -190°C). Ici, gros plan sur la source de rayons X (à gauche), la tête goniométrique (au centre) et le détecteur (à droite).

Institut(s)

Thématiques scientifiques

Issues du même reportage : Cristallographie Institut de physique de Rennes

CNRS Images,

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