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20130001_2131

© Jean-Claude MOSCHETTI / CNRS Images

Référence

20130001_2131

Diffractomètre de rayons X permettant d'étudier la structure de la matière, notamment des cristaux,

Diffractomètre de rayons X permettant d'étudier la structure de la matière, notamment des cristaux, à l'échelle atomique et moléculaire et à basse température (jusqu'à -190°C). Ici, gros plan sur la source de rayons X (à gauche), la tête goniométrique (au centre) et le détecteur (à droite).

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Issues du même reportage : Cristallographie Institut de physique de Rennes

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