Retour au reportage Retour au reportage
20130001_2124

© Jean-Claude MOSCHETTI / CNRS Images

Référence

20130001_2124

Alignement d'un échantillon (cristal) dans le faisceau de rayons X d'un diffractomètre. Ce diffracto

Alignement d'un échantillon (cristal) dans le faisceau de rayons X d'un diffractomètre. Ce diffractomètre de rayons X permet d'étudier la structure de la matière à l'échelle atomique et moléculaire et à basse température (jusqu'à -190°C).

Institut(s)

Thématiques scientifiques

Issues du même reportage : Cristallographie Institut de physique de Rennes

CNRS Images,

Nous mettons en images les recherches scientifiques pour contribuer à une meilleure compréhension du monde, éveiller la curiosité et susciter l'émerveillement de tous.