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20130001_2124
© Jean-Claude MOSCHETTI/CNRS Photothèque

Alignement d'un échantillon (cristal) dans le faisceau de rayons X d'un diffractomètre. Ce diffracto

Référence

20130001_2124

Année de production

2013

Taille maximale

62.31 x 41.59 cm / 300 dpi

Légende

Alignement d'un échantillon (cristal) dans le faisceau de rayons X d'un diffractomètre. Ce diffractomètre de rayons X permet d'étudier la structure de la matière à l'échelle atomique et moléculaire et à basse température (jusqu'à -190°C).

Institut(s)

Thématiques scientifiques

Issues du même reportage : Cristallographie Institut de physique de Rennes

CNRS Images,

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