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20130001_2124

© Jean-Claude MOSCHETTI / CNRS Images

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Alignement d'un échantillon (cristal) dans le faisceau de rayons X d'un diffractomètre. Ce diffracto

Alignement d'un échantillon (cristal) dans le faisceau de rayons X d'un diffractomètre. Ce diffractomètre de rayons X permet d'étudier la structure de la matière à l'échelle atomique et moléculaire et à basse température (jusqu'à -190°C).

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