20120001_0086

© IEMN/CNRS Images

Référence

20120001_0086

Vue de profil, en microscopie électronique à balayage (MEB), d'un réseau de micropiliers de silicium

Vue de profil, en microscopie électronique à balayage (MEB), d'un réseau de micropiliers de silicium. La structure est obtenue en usinant un substrat de silicium par un procédé de gravure profonde.

Institut(s)

Thématiques scientifiques

CNRS Images,

Nous mettons en images les recherches scientifiques pour contribuer à une meilleure compréhension du monde, éveiller la curiosité et susciter l'émerveillement de tous.