© IEMN/CNRS Images
Référence
20120001_0086
Vue de profil, en microscopie électronique à balayage (MEB), d'un réseau de micropiliers de silicium
Vue de profil, en microscopie électronique à balayage (MEB), d'un réseau de micropiliers de silicium. La structure est obtenue en usinant un substrat de silicium par un procédé de gravure profonde.
Ajouter à ma sélection
Conditions d'utilisation
L’utilisation des médias visibles sur la Plateforme CNRS Images peut être accordée sur demande. Toute reproduction ou représentation est interdite sans l'autorisation préalable de CNRS Images (sauf pour les ressources sous licence Creative Commons).
Aucune modification d'une image ne peut être effectuée sans l'accord préalable de CNRS Images.
Aucune utilisation à des fins publicitaires ou diffusion à un tiers d'une image ne peut être effectuée sans l'accord préalable de CNRS Images.
Pour plus de précisions consulter Nos conditions générales
