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20090001_0675
© Cyril FRESILLON/CNRS Photothèque

Deux stations sous pointes pour la caractérisation électrique statique de micro et nanosystèmes. La

Référence

20090001_0675

Année de production

2009

Taille maximale

36.31 x 24.11 cm / 300 dpi

Légende

Deux stations sous pointes pour la caractérisation électrique statique de micro et nanosystèmes. La température est contrôlée jusqu'à 300°C. Le but de la recherche est de mesurer la résistance électrique de ces systèmes dans une large gamme : du milliOhm au teraOhm.

Institut(s)

Délégation(s)

Thématiques scientifiques

Issues du même reportage : Laboratoire d'analyse et d'architecture des systèmes du CNRS (LAAS-CNRS)

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