
© Emmanuel PERRIN/CNRS Photothèque
Au bout de sa pince, un échantillon de tôle zinguée survole un écran où s'affiche sa cartographie To
Référence
20050001_1586
Année de production
2005
Taille maximale
16.93 x 25.47 cm / 300 dpi
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Au bout de sa pince, un échantillon de tôle zinguée survole un écran où s'affiche sa cartographie ToF-SIMS (Spectroscopie de masse d'ions secondaire à temps de vol - Time Of Flight - Secondary Ion Mass Spectrometry) d'un ion représentatif des mécanismes tribochimiques.