Année de production
2005
© Emmanuel PERRIN/CNRS Images
Référence
20050001_1584
Un échantillon fixé (en haut à gauche) sur son porte-échantillon va être introduit dans le spectromè
Un échantillon fixé (en haut à gauche) sur son porte-échantillon va être introduit dans le spectromètre ToF-SIMS (Spectroscopie de masse d'ions secondaire à temps de vol - Time Of Flight - Secondary Ion Mass Spectrometry) pour étudier la tribochimie du formage de bandes métalliques.
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