20050001_1584

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Un échantillon fixé (en haut à gauche) sur son porte-échantillon va être introduit dans le spectromè

Un échantillon fixé (en haut à gauche) sur son porte-échantillon va être introduit dans le spectromètre ToF-SIMS (Spectroscopie de masse d'ions secondaire à temps de vol - Time Of Flight - Secondary Ion Mass Spectrometry) pour étudier la tribochimie du formage de bandes métalliques.

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