
© Emmanuel PERRIN/CNRS Photothèque
Un échantillon fixé (en haut à gauche) sur son porte-échantillon va être introduit dans le spectromè
Reference
20050001_1584
Production year
2005
Max. size
16.93 x 25.47 cm / 300 dpi
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Un échantillon fixé (en haut à gauche) sur son porte-échantillon va être introduit dans le spectromètre ToF-SIMS (Spectroscopie de masse d'ions secondaire à temps de vol - Time Of Flight - Secondary Ion Mass Spectrometry) pour étudier la tribochimie du formage de bandes métalliques.