20050001_1585
© Emmanuel PERRIN/CNRS Photothèque

Au bout de sa pince, un échantillon de tôle zinguée survole un écran où s'affiche sa cartographie To

Reference

20050001_1585

Production year

2005

Max. size

16.93 x 25.47 cm / 300 dpi

Caption

Au bout de sa pince, un échantillon de tôle zinguée survole un écran où s'affiche sa cartographie ToF-SIMS (Spectroscopie de masse d'ions secondaire à temps de vol - Time Of Flight - Secondary Ion Mass Spectrometry) d'un ion représentatif des mécanismes tribochimiques.

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