Année de production
2005
© Emmanuel PERRIN/CNRS Images
Référence
20050001_1585
Au bout de sa pince, un échantillon de tôle zinguée survole un écran où s'affiche sa cartographie To
Au bout de sa pince, un échantillon de tôle zinguée survole un écran où s'affiche sa cartographie ToF-SIMS (Spectroscopie de masse d'ions secondaire à temps de vol - Time Of Flight - Secondary Ion Mass Spectrometry) d'un ion représentatif des mécanismes tribochimiques.
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