20050001_1582
© Emmanuel PERRIN/CNRS Photothèque

Un échantillon fixé (en haut à droite) sur son porte-échantillon va être introduit dans le spectromè

Référence

20050001_1582

Année de production

2005

Taille maximale

16.93 x 25.47 cm / 300 dpi

Légende

Un échantillon fixé (en haut à droite) sur son porte-échantillon va être introduit dans le spectromètre ToF-SIMS (Spectroscopie de masse d'ions secondaire à temps de vol - Time Of Flight - Secondary Ion Mass Spectrometry) pour étudier la tribochimie du formage de bandes métalliques.

Institut(s)

Délégation(s)

Thématiques scientifiques

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