20050001_1586

© Emmanuel PERRIN/CNRS Images

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Au bout de sa pince, un échantillon de tôle zinguée survole un écran où s'affiche sa cartographie To

Au bout de sa pince, un échantillon de tôle zinguée survole un écran où s'affiche sa cartographie ToF-SIMS (Spectroscopie de masse d'ions secondaire à temps de vol - Time Of Flight - Secondary Ion Mass Spectrometry) d'un ion représentatif des mécanismes tribochimiques.

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