20050001_1586
© Emmanuel PERRIN/CNRS Photothèque

Au bout de sa pince, un échantillon de tôle zinguée survole un écran où s'affiche sa cartographie To

Reference

20050001_1586

Production year

2005

Max. size

16.93 x 25.47 cm / 300 dpi

Caption

Au bout de sa pince, un échantillon de tôle zinguée survole un écran où s'affiche sa cartographie ToF-SIMS (Spectroscopie de masse d'ions secondaire à temps de vol - Time Of Flight - Secondary Ion Mass Spectrometry) d'un ion représentatif des mécanismes tribochimiques.

CNRS Institute(s)

Regional office(s)

CNRS Images,

Our work is guided by the way scientists question the world around them and we translate their research into images to help people to understand the world better and to awaken their curiosity and wonderment.