Année de production
2002
© Laurence MEDARD/CNRS Images
Référence
20020001_0356
Image à la résolution atomique d'une surface de silicium obtenue avec un microscope à effet tunnel.
Image à la résolution atomique d'une surface de silicium obtenue avec un microscope à effet tunnel. A l'arrière plan, bâti expérimental de physique des surfaces en ultravide, comprenant le microscope à effet tunnel.
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