20020001_0356
© Laurence MEDARD/CNRS Photothèque

Image à la résolution atomique d'une surface de silicium obtenue avec un microscope à effet tunnel.

Référence

20020001_0356

Année de production

2002

Taille maximale

20 x 30 cm / 300 dpi

Légende

Image à la résolution atomique d'une surface de silicium obtenue avec un microscope à effet tunnel. A l'arrière plan, bâti expérimental de physique des surfaces en ultravide, comprenant le microscope à effet tunnel.

Institut(s)

Délégation(s)

Thématiques scientifiques

CNRS Images,

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