20020001_0356
© Laurence MEDARD/CNRS Photothèque

Image à la résolution atomique d'une surface de silicium obtenue avec un microscope à effet tunnel.

Reference

20020001_0356

Production year

2002

Max. size

20 x 30 cm / 300 dpi

Caption

Image à la résolution atomique d'une surface de silicium obtenue avec un microscope à effet tunnel. A l'arrière plan, bâti expérimental de physique des surfaces en ultravide, comprenant le microscope à effet tunnel.

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