© Pierre GRECH /Didier COT / IES / IEM / CNRS Images
Reference
20100001_0393
Vue de dessus au microscope électronique à balayage de dislocations de surface d'une couche d'arrêt
Vue de dessus au microscope électronique à balayage de dislocations de surface d'une couche d'arrêt en InAs (arséniure d'indium) révélées par la gravure chimique. Les zones attaquées et percées sont colorisées. L'objectif de cette recherche est de fabriquer des diodes lasers à base de matériaux III-V, pour le médical (chirurgie, aide au diagnostic, rétine artificielle), pour les mesures physiques (taux d'humidité, concentration), la sécurité et l'environnement (détection de gaz).
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