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Reference
20090001_0675
Deux stations sous pointes pour la caractérisation électrique statique de micro et nanosystèmes. La
Deux stations sous pointes pour la caractérisation électrique statique de micro et nanosystèmes. La température est contrôlée jusqu'à 300°C. Le but de la recherche est de mesurer la résistance électrique de ces systèmes dans une large gamme : du milliOhm au teraOhm.
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