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20170023_0022

© Cyril FRESILLON / UMPhy CNRS-Thales / CNRS Images

Référence

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Analyse d'un échantillon par spectrométrie d’électrons photoémis par les rayons X

Diogo Vaz se prépare à analyser un échantillon par spectrométrie d’électrons photoémis par les rayons X (X-ray photoelectron spectroscopy, XPS) au sein d'un cluster de croissance d'oxydes fonctionnels. Ce cluster est composé de 2 bâtis d'ablation laser pulsé (PLD - pulsed laser déposition), d’un bâti de pulvérisation cathodique et d’un système XPS pour réaliser des analyses in situ. En PLD, un laser pulsé vient ablater une cible constituée du matériau que les chercheurs veulent déposer en couches minces. Les atomes contenus dans le plasma ainsi créé se déposent sur un substrat et forment une couche mince.

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