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Référence
20160056_0022
Vue d'ensemble d'un analyseur ionique SIMS
Vue d'ensemble d'un analyseur ionique SIMS. L'analyse ionique par spectrométrie de masse des ions secondaires (SIMS) est une méthode d’analyse physico-chimique, élémentaire et moléculaire, de la surface et de la composition interne des matériaux solides supportant un vide poussé.
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