Retour au reportage Retour au reportage
20160056_0004

© Cyril FRESILLON/UMSCastaing/CNRS Images

Référence

20160056_0004

Vue d'ensemble d'un microscope à double colonne (Dual-Beam)

Vue d'ensemble d'un microscope à double colonne (Dual-Beam) combinant un microscope électronique à balayage (MEB) et l'usinage ionique de haute précision à l’aide d’un faisceau ionique focalisé (FIB). Avec cet équipement, il est possible d’observer la matière, de l’usiner et de créer des structures à l’échelle nanométrique. Il permet également de préparer des lames minces pour la microscopie en transmission avec une précision et une rapidité accrues.

Institut(s)

Délégation(s)

Thématiques scientifiques

CNRS Images,

Nous mettons en images les recherches scientifiques pour contribuer à une meilleure compréhension du monde, éveiller la curiosité et susciter l'émerveillement de tous.