Centre de microcaractérisation Raimond Castaing

Vue d'ensemble d'un microscope à double colonne (Dual-Beam) combinant un microscope électronique à balayage (MEB) et l'usinage ionique de haute précision à l’aide d’un faisceau ionique focalisé (FIB). Avec cet équipement, il est possible d’observer la matière, de l’usiner et de créer des structures à l’échelle nanométrique. Il permet également de préparer des lames minces pour la microscopie en transmission avec une précision et une rapidité accrues.

Vue d'ensemble d'un microscope à double colonne (Dual-Beam) combinant un microscope électronique à balayage (MEB) et l'usinage ionique de haute précision à l’aide d’un faisceau ionique focalisé (FIB). Avec cet équipement, il est possible d’observer la matière, de l’usiner et de créer des structures à l’échelle nanométrique. Il permet également de préparer des lames minces pour la microscopie en transmission avec une précision et une rapidité accrues.

Ecrans de contrôle d'un microscope à double colonne (Dual-Beam) combinant un microscope électronique à balayage (MEB) et l'usinage ionique de haute précision à l’aide d’un faisceau ionique focalisé (FIB). Avec cet équipement, il est possible d’observer la matière, de l’usiner et de créer des structures à l’échelle nanométrique. Il permet également de préparer des lames minces pour la microscopie en transmission avec une précision et une rapidité accrues.

Vue d'ensemble d'un microscope à double colonne (Dual-Beam) combinant un microscope électronique à balayage (MEB) et l'usinage ionique de haute précision à l’aide d’un faisceau ionique focalisé (FIB). Avec cet équipement, il est possible d’observer la matière, de l’usiner et de créer des structures à l’échelle nanométrique. Il permet également de préparer des lames minces pour la microscopie en transmission avec une précision et une rapidité accrues.

Vue d'ensemble d'un microscope à double colonne (Dual-Beam) combinant un microscope électronique à balayage (MEB) et l'usinage ionique de haute précision à l’aide d’un faisceau ionique focalisé (FIB). Avec cet équipement, il est possible d’observer la matière, de l’usiner et de créer des structures à l’échelle nanométrique. Il permet également de préparer des lames minces pour la microscopie en transmission avec une précision et une rapidité accrues.

Mise en place d'un échantillon dans un microscope à double colonne (Dual-Beam). Cet équipement combine un microscope électronique à balayage (MEB) et l'usinage ionique de haute précision à l’aide d’un faisceau ionique focalisé (FIB). Avec cet équipement, il est possible d’observer la matière, de l’usiner et de créer des structures à l’échelle nanométrique. Il permet également de préparer des lames minces pour la microscopie en transmission avec une précision et une rapidité accrues.

Mise en place d'un échantillon dans un microscope à double colonne (Dual-Beam). Cet équipement combine un microscope électronique à balayage (MEB) et l'usinage ionique de haute précision à l’aide d’un faisceau ionique focalisé (FIB). Avec cet équipement, il est possible d’observer la matière, de l’usiner et de créer des structures à l’échelle nanométrique. Il permet également de préparer des lames minces pour la microscopie en transmission avec une précision et une rapidité accrues.

Mise en place d'un échantillon dans un microscope à double colonne (Dual-Beam). Cet équipement combine un microscope électronique à balayage (MEB) et l'usinage ionique de haute précision à l’aide d’un faisceau ionique focalisé (FIB). Avec cet équipement, il est possible d’observer la matière, de l’usiner et de créer des structures à l’échelle nanométrique. Il permet également de préparer des lames minces pour la microscopie en transmission avec une précision et une rapidité accrues.

Mise en place d'un échantillon dans un microscope à double colonne (Dual-Beam). Cet équipement combine un microscope électronique à balayage (MEB) et l'usinage ionique de haute précision à l’aide d’un faisceau ionique focalisé (FIB). Avec cet équipement, il est possible d’observer la matière, de l’usiner et de créer des structures à l’échelle nanométrique. Il permet également de préparer des lames minces pour la microscopie en transmission avec une précision et une rapidité accrues.

Vue de l’intérieur d'un faisceau ionique focalisé (FIB). Cet équipement combine un microscope électronique à balayage (MEB) et l'usinage ionique de haute précision à l’aide d’un faisceau ionique focalisé (FIB). Ainsi, il rend possible l'observation de la matière, l’usinage et la création de structures à l’échelle nanométrique. Il permet également de préparer des lames minces pour la microscopie en transmission avec une précision et une rapidité accrues.

Mise en place d'une demi-grille en cuivre, pour la préparation de lames de microscopie électronique en transmission (MET), dans le MEB-FIB. Cet équipement combine un microscope électronique à balayage (MEB) et l'usinage ionique de haute précision à l’aide d’un faisceau ionique focalisé (FIB).

Mise en place d'une demi-grille en cuivre, pour la préparation de lames de microscopie électronique en transmission (MET), dans le MEB-FIB. Cet équipement combine un microscope électronique à balayage (MEB) et l'usinage ionique de haute précision à l’aide d’un faisceau ionique focalisé (FIB).

Mise en place d'une demi-grille en cuivre, pour la préparation de lames de microscopie électronique en transmission (MET), dans le MEB-FIB. Cet équipement combine un microscope électronique à balayage (MEB) et l'usinage ionique de haute précision à l’aide d’un faisceau ionique focalisé (FIB).

Mise en place d'une demi-grille en cuivre, pour la préparation de lames de microscopie électronique en transmission (MET), dans le MEB-FIB. Cet équipement combine un microscope électronique à balayage (MEB) et l'usinage ionique de haute précision à l’aide d’un faisceau ionique focalisé (FIB).

Vue d'ensemble de la salle des microsondes électroniques de Castaing (Electron probe microAnalysis). La microsonde de Castaing est une technique de microanalyse élémentaire qualitative et/ou quantitative de tous types d'échantillons solides à l'échelle submicronique et pour tous les éléments allant du bore à l'uranium. Cette analyse est basée sur la production de rayons X caractéristiques par une sonde électronique et sur leur détection en longueur d'onde.

Vue d'ensemble de la salle des microsondes électroniques de Castaing (Electron probe microAnalysis). La microsonde de Castaing est une technique de microanalyse élémentaire qualitative et/ou quantitative de tous types d'échantillons solides à l'échelle submicronique et pour tous les éléments allant du bore à l'uranium. Cette analyse est basée sur la production de rayons X caractéristiques par une sonde électronique et sur leur détection en longueur d'onde.

Mise en place d'un échantillon dans la microsonde électronique de Castaing (Electron probe microAnalysis) équipée d'un canon à effet de champ. La microsonde de Castaing est une technique de microanalyse élémentaire qualitative et/ou quantitative de tous types d'échantillons solides à l'échelle submicronique et pour tous les éléments allant du bore à l'uranium. Cette analyse est basée sur la production de rayons X caractéristiques par une sonde électronique et sur leur détection en longueur d…

Ecrans de contrôle d'une microsonde électronique de Castaing (Electron probe microAnalysis). La microsonde de Castaing est une technique de microanalyse élémentaire qualitative et/ou quantitative de tous types d'échantillons solides à l'échelle submicronique et pour tous les éléments allant du bore à l'uranium. Cette analyse est basée sur la production de rayons X caractéristiques par une sonde électronique et sur leur détection en longueur d'onde.

Vue d'ensemble de la salle des microsondes électroniques de Castaing (Electron probe microAnalysis). La microsonde de Castaing est une technique de microanalyse élémentaire qualitative et/ou quantitative de tous types d'échantillons solides à l'échelle submicronique et pour tous les éléments allant du bore à l'uranium. Cette analyse est basée sur la production de rayons X caractéristiques par une sonde électronique et sur leur détection en longueur d'onde.

Vue d'ensemble de la salle des microsondes électroniques de Castaing (Electron probe microAnalysis). La microsonde de Castaing est une technique de microanalyse élémentaire qualitative et/ou quantitative de tous types d'échantillons solides à l'échelle submicronique et pour tous les éléments allant du bore à l'uranium. Cette analyse est basée sur la production de rayons X caractéristiques par une sonde électronique et sur leur détection en longueur d'onde.

Vue d'ensemble d'un analyseur ionique SIMS. L'analyse ionique par spectrométrie de masse des ions secondaires (SIMS) est une méthode d’analyse physico-chimique, élémentaire et moléculaire, de la surface et de la composition interne des matériaux solides supportant un vide poussé.

Vue d'ensemble d'un analyseur ionique SIMS. L'analyse ionique par spectrométrie de masse des ions secondaires (SIMS) est une méthode d’analyse physico-chimique, élémentaire et moléculaire, de la surface et de la composition interne des matériaux solides supportant un vide poussé.

Vue d'ensemble d'un analyseur ionique SIMS. L'analyse ionique par spectrométrie de masse des ions secondaires (SIMS) est une méthode d’analyse physico-chimique, élémentaire et moléculaire, de la surface et de la composition interne des matériaux solides supportant un vide poussé.

Vue d'ensemble d'un analyseur ionique SIMS. L'analyse ionique par spectrométrie de masse des ions secondaires (SIMS) est une méthode d’analyse physico-chimique, élémentaire et moléculaire, de la surface et de la composition interne des matériaux solides supportant un vide poussé.

Vue d'ensemble d'un analyseur ionique SIMS. L'analyse ionique par spectrométrie de masse des ions secondaires (SIMS) est une méthode d’analyse physico-chimique, élémentaire et moléculaire, de la surface et de la composition interne des matériaux solides supportant un vide poussé.

Vue d'ensemble d'un analyseur ionique SIMS. L'analyse ionique par spectrométrie de masse des ions secondaires (SIMS) est une méthode d’analyse physico-chimique, élémentaire et moléculaire, de la surface et de la composition interne des matériaux solides supportant un vide poussé.

Vue d'ensemble d'un analyseur ionique SIMS. L'analyse ionique par spectrométrie de masse des ions secondaires (SIMS) est une méthode d’analyse physico-chimique, élémentaire et moléculaire, de la surface et de la composition interne des matériaux solides supportant un vide poussé.

Vue d'ensemble d'un analyseur ionique SIMS. L'analyse ionique par spectrométrie de masse des ions secondaires (SIMS) est une méthode d’analyse physico-chimique, élémentaire et moléculaire, de la surface et de la composition interne des matériaux solides supportant un vide poussé.

Vue d'ensemble d'un microscope électronique en transmission (MET) JEM-ARM200F. Ce microscope à émission de champ cathode froide corrigé sonde, est couplé à un spectromètre EDS SDD CENTURIO et à un spectromètre de perte d'énergie des électrons (EELS) GIF QUANTUM ER. Il est dédié à la caractérisation structurale et chimique des échantillons à l’échelle atomique.

Vue d'ensemble du microscope électronique en transmission (MET) JEM-ARM200F. Ce microscope à émission de champ cathode froide corrigé sonde, est couplé à un spectromètre EDS SDD CENTURIO et à un spectromètre de perte d'énergie des électrons (EELS) GIF QUANTUM ER. Il est dédié à la caractérisation structurale et chimique des échantillons à l’échelle atomique.

Manipulation d'un microscope électronique en transmission (MET) JEM-ARM200F. Ce microscope à émission de champ cathode froide corrigé sonde, est couplé à un spectromètre EDS SDD CENTURIO et à un spectromètre de perte d'énergie des électrons (EELS) GIF QUANTUM ER. Il est dédié à la caractérisation structurale et chimique des échantillons à l’échelle atomique.

Manipulation d'un microscope électronique en transmission (MET) JEM-ARM200F. Ce microscope à émission de champ cathode froide corrigé sonde, est couplé à un spectromètre EDS SDD CENTURIO et à un spectromètre de perte d'énergie des électrons (EELS) GIF QUANTUM ER. Il est dédié à la caractérisation structurale et chimique des échantillons à l’échelle atomique.

Ecrans de contrôle d'un microscope électronique en transmission (MET) JEM-ARM200F. Ce microscope à émission de champ cathode froide corrigé sonde, est couplé à un spectromètre EDS SDD CENTURIO et à un spectromètre de perte d'énergie des électrons (EELS) GIF QUANTUM ER. Il est dédié à la caractérisation structurale et chimique des échantillons à l’échelle atomique.

Ecrans de contrôle d'un microscope électronique en transmission (MET) JEM-ARM200F. Ce microscope à émission de champ cathode froide corrigé sonde, est couplé à un spectromètre EDS SDD CENTURIO et à un spectromètre de perte d'énergie des électrons (EELS) GIF QUANTUM ER. Il est dédié à la caractérisation structurale et chimique des échantillons à l’échelle atomique.

Insertion d'un objet dans un microscope électronique en transmission (MET) JEM-ARM200F. Ce microscope à émission de champ cathode froide corrigé sonde, est couplé à un spectromètre EDS SDD CENTURIO et à un spectromètre de perte d'énergie des électrons (EELS) GIF QUANTUM ER. Il est dédié à la caractérisation structurale et chimique des échantillons à l’échelle atomique.

Opération de maintenance réalisée sur un microscope électronique en transmission (MET) JEM-ARM200F. Ce microscope à émission de champ cathode froide corrigé sonde, est couplé à un spectromètre EDS SDD CENTURIO et à un spectromètre de perte d'énergie des électrons (EELS) GIF QUANTUM ER. Il est dédié à la caractérisation structurale et chimique des échantillons à l’échelle atomique.

Opération de maintenance réalisée sur un microscope électronique en transmission (MET) JEM-ARM200F. Ce microscope à émission de champ cathode froide corrigé sonde, est couplé à un spectromètre EDS SDD CENTURIO et à un spectromètre de perte d'énergie des électrons (EELS) GIF QUANTUM ER. Il est dédié à la caractérisation structurale et chimique des échantillons à l’échelle atomique.

Echantillon mis en place sur un porte-objet, avant son insertion et son analyse dans un microscope électronique en transmission (MET) disponibles à l'UMS Castaing. Ce MET peut en particulier être équipé d'une source à émission de champ à cathode froide et être corrigé en sonde, être couplé à un spectromètre EDS SDD CENTURIO et à un spectromètre de perte d'énergie des électrons (EELS) GIF QUANTUM ER. Il permet ainsi la caractérisation structurale et chimique des échantillons à l’échelle atomique.

Echantillon mis en place sur un porte-objet, avant son insertion et son analyse dans un microscope électronique en transmission (MET) disponibles à l'UMS Castaing. Ce MET peut en particulier être équipé d'une source à émission de champ à cathode froide et être corrigé en sonde, être couplé à un spectromètre EDS SDD CENTURIO et à un spectromètre de perte d'énergie des électrons (EELS) GIF QUANTUM ER. Il permet ainsi la caractérisation structurale et chimique des échantillons à l’échelle atomique.

Echantillon mis en place sur un porte-objet, avant son insertion et son analyse dans un microscope électronique en transmission (MET) disponibles à l'UMS Castaing. Ce MET peut en particulier être équipé d'une source à émission de champ à cathode froide et être corrigé en sonde, être couplé à un spectromètre EDS SDD CENTURIO et à un spectromètre de perte d'énergie des électrons (EELS) GIF QUANTUM ER. Il permet ainsi la caractérisation structurale et chimique des échantillons à l’échelle atomique.

Echantillon mis en place sur un porte-objet, avant son insertion et son analyse dans un microscope électronique en transmission (MET) disponibles à l'UMS Castaing. Ce MET peut en particulier être équipé d'une source à émission de champ à cathode froide et être corrigé en sonde, être couplé à un spectromètre EDS SDD CENTURIO et à un spectromètre de perte d'énergie des électrons (EELS) GIF QUANTUM ER. Il permet ainsi la caractérisation structurale et chimique des échantillons à l’échelle atomique.

Echantillon mis en place sur un porte-objet, avant son insertion et son analyse dans un microscope électronique en transmission (MET) disponibles à l'UMS Castaing. Ce MET peut en particulier être équipé d'une source à émission de champ à cathode froide et être corrigé en sonde, être couplé à un spectromètre EDS SDD CENTURIO et à un spectromètre de perte d'énergie des électrons (EELS) GIF QUANTUM ER. Il permet ainsi la caractérisation structurale et chimique des échantillons à l’échelle atomique.

Echantillon préparé à l'aide d'un polisseur ionique. Il sera ensuite analysé par microscopie électronique à balayage (MEB).

Echantillon préparé à l'aide d'un polisseur ionique. Il sera ensuite analysé par microscopie électronique à balayage (MEB).

Echantillon préparé à l'aide d'un polisseur ionique. Il sera ensuite analysé par microscopie électronique à balayage (MEB).

Echantillon préparé à l'aide d'un polisseur ionique. Il sera ensuite analysé par microscopie électronique à balayage (MEB).

Echantillon préparé à l'aide d'un polisseur ionique. Il sera ensuite analysé par microscopie électronique à balayage (MEB).

Préparation d'un échantillon à l'aide d'un évaporateur carbone. Il sera ensuite analysé par microsonde électronique de Castaing.

Préparation d'un échantillon à l'aide d'un évaporateur carbone. Il sera ensuite analysé par microsonde électronique de Castaing.

Préparation d'un échantillon à l'aide d'un évaporateur carbone. Il sera ensuite analysé par microsonde électronique de Castaing.

Vue d'ensemble d'un microscope électronique à balayage (MEB) permet de produire des images de très haute résolution de la surface d’un échantillon.

Vue d'ensemble d'un microscope électronique à balayage (MEB) permet de produire des images de très haute résolution de la surface d’un échantillon.

Vue d'ensemble d'un microscope électronique à balayage (MEB) permet de produire des images de très haute résolution de la surface d’un échantillon.

Vue d'ensemble d'un microscope électronique à balayage (MEB) permet de produire des images de très haute résolution de la surface d’un échantillon.

Vue d'ensemble d'un microscope électronique à balayage (MEB) permet de produire des images de très haute résolution de la surface d’un échantillon.

Introduction d'un échantillon dans le sas d'un microscope électronique à balayage (MEB). Cet équipement permet de produire des images de très haute résolution de la surface d’un échantillon.

Introduction d'un échantillon dans le sas d'un microscope électronique à balayage (MEB). Cet équipement permet de produire des images de très haute résolution de la surface d’un échantillon.

Couloir desservant les salles d'expérimentation du Centre de microcaractérisation Raimond Castaing.

Couloir desservant les salles d'expérimentation du Centre de microcaractérisation Raimond Castaing.

Un des premiers microscopes électroniques en transmission commercialisés en France et datant de 1946, à l'entrée du Centre de microcaractérisation Raimond Castaing (don de la famille Castaing). C’est avec ce microscope que Raimond Castaing a commencé ses travaux de recherche en microscopie.

Bâtiment Espace Clément Ader, hébergeant le Centre de microcaractérisation Raimond Castaing, à Toulouse.

Bâtiment Espace Clément Ader, hébergeant le Centre de microcaractérisation Raimond Castaing, à Toulouse.