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Référence
20160056_0012
Mise en place d'une demi-grille en cuivre dans le MEB-FIB
Mise en place d'une demi-grille en cuivre, pour la préparation de lames de microscopie électronique en transmission (MET), dans le MEB-FIB. Cet équipement combine un microscope électronique à balayage (MEB) et l'usinage ionique de haute précision à l’aide d’un faisceau ionique focalisé (FIB).
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