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20110001_0431

© Cyril FRESILLON/CNRS Images

Référence

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Dans une salle blanche, profilomètre permettant de mesurer l'épaisseur de couches minces ou de motif

Dans une salle blanche, profilomètre permettant de mesurer l'épaisseur de couches minces ou de motifs à la surface d'échantillons. Sur l'écran, on visualise la pointe du profilomètre en train de scanner la surface d'un échantillon. Elle suit la topographie de l'échantillon et l'information est ensuite retranscrite sur l'écran. L'utilisateur peut alors analyser les données.

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Thématiques scientifiques

Issues du même reportage : Institut des NanoSciences de Paris 1

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