20120001_0080

© IEMN/CNRS Images

Référence

20120001_0080

Vue de dessus, en microscopie électronique à balayage (MEB), d'un réseau de micropiliers de silicium

Vue de dessus, en microscopie électronique à balayage (MEB), d'un réseau de micropiliers de silicium, obtenus en usinant un substrat de silicium par un procédé de gravure profonde. La surface comporte plusieurs zones avec un espacement variable entre les piliers.

Institut(s)

Thématiques scientifiques

CNRS Images,

Nous mettons en images les recherches scientifiques pour contribuer à une meilleure compréhension du monde, éveiller la curiosité et susciter l'émerveillement de tous.