20020001_0356

© Laurence MEDARD/CNRS Images

Référence

20020001_0356

Image à la résolution atomique d'une surface de silicium obtenue avec un microscope à effet tunnel.

Image à la résolution atomique d'une surface de silicium obtenue avec un microscope à effet tunnel. A l'arrière plan, bâti expérimental de physique des surfaces en ultravide, comprenant le microscope à effet tunnel.

Institut(s)

Thématiques scientifiques

CNRS Images,

Nous mettons en images les recherches scientifiques pour contribuer à une meilleure compréhension du monde, éveiller la curiosité et susciter l'émerveillement de tous.