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20160097_0039
© Frédérique PLAS / ETIS / UCP / ENSEA / CNRS Photothèque

Wafer sur lequel sont effectuées des mesures sous pointes

Référence

20160097_0039

Année de production

2016

Taille maximale

32.51 x 48.77 cm / 300 dpi

Légende

Wafer sur lequel sont effectuées des mesures sous pointes (analyse de réseau, de spectre…). Une station permet de positionner les pointes afin qu'elles soient mises en contact électrique avec le circuit avec une précision de l'ordre de 10 à 20 µm. Suivant l’application, les mesures électriques permettent de caractériser les performances d’un circuit (gain, linéarité…) ou d’obtenir des informations sur le comportement électrique de composants afin d’en déduire un modèle électrique équivalent.

Institut(s)

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Thématiques scientifiques

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