Année de production
2005
© Jérôme CHATIN/CNRS Images
Référence
20050001_0403
Microscope à force atomique (AFM) pour l'observation de nanostructures en surface. La résolution de
Microscope à force atomique (AFM) pour l'observation de nanostructures en surface. La résolution de cet appareil est de l'ordre de quelques nanomètres. Etude de nanostructures réalisées par croissance épitaxiale (colonnes de semiconducteur d'un diamètre de quelques dizaines de nanomètres, boîtes quantiques).
Ajouter à ma sélection
Conditions d'utilisation
L’utilisation des médias visibles sur la Plateforme CNRS Images peut être accordée sur demande. Toute reproduction ou représentation est interdite sans l'autorisation préalable de CNRS Images (sauf pour les ressources sous licence Creative Commons).
Aucune modification d'une image ne peut être effectuée sans l'accord préalable de CNRS Images.
Aucune utilisation à des fins publicitaires ou diffusion à un tiers d'une image ne peut être effectuée sans l'accord préalable de CNRS Images.
Pour plus de précisions consulter Nos conditions générales
