© Laurent VILA/THALES/CNRS Images
Référence
20030001_1387
Image de microscopie électronique à balayage (SEM) d'un nanofil isolé de cobalt de 35 nm de diamètr
Image de microscopie électronique à balayage (SEM) d'un nanofil isolé de cobalt de 35 nm de diamètre connecté pour des mesures de transport. La largeur des contacts et leur séparation est de 0,5 microns.
Ajouter à ma sélection
Conditions d'utilisation
L’utilisation des médias visibles sur la Plateforme CNRS Images peut être accordée sur demande. Toute reproduction ou représentation est interdite sans l'autorisation préalable de CNRS Images (sauf pour les ressources sous licence Creative Commons).
Aucune modification d'une image ne peut être effectuée sans l'accord préalable de CNRS Images.
Aucune utilisation à des fins publicitaires ou diffusion à un tiers d'une image ne peut être effectuée sans l'accord préalable de CNRS Images.
Pour plus de précisions consulter Nos conditions générales
