Année de production
2003
© Hubert RAGUET/THALES/CNRS Images
Référence
20030001_0526
Chercheur plaçant un échantillon à caractériser dans un microscope à force atomique (AFM). On obtien
Chercheur plaçant un échantillon à caractériser dans un microscope à force atomique (AFM). On obtient des images représentant la surface de l'échantillon avec une résolution de l'ordre de grandeur de l'atome. Cet appareil peut également être utilisé pour faire de la nano-lithographie. Le laboratoire a effectué des nanocontacts de 10 nm de diamètre.
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