Année de production
2009
© Emmanuel PERRIN/Univ.Nice-Sophia Antipolis/LEAT/CREMANT/CNRS Images
Référence
20090001_0178
Mesure, avec un banc de test sous pointes, de circuits intégrés microélectroniques pour les communic
Mesure, avec un banc de test sous pointes, de circuits intégrés microélectroniques pour les communications sans fil.
Ajouter à ma sélection
Conditions d'utilisation
L’utilisation des médias visibles sur la Plateforme CNRS Images peut être accordée sur demande. Toute reproduction ou représentation est interdite sans l'autorisation préalable de CNRS Images (sauf pour les ressources sous licence Creative Commons).
Aucune modification d'une image ne peut être effectuée sans l'accord préalable de CNRS Images.
Aucune utilisation à des fins publicitaires ou diffusion à un tiers d'une image ne peut être effectuée sans l'accord préalable de CNRS Images.
Pour plus de précisions consulter Nos conditions générales
