20090001_0178

© Emmanuel PERRIN/Univ.Nice-Sophia Antipolis/LEAT/CREMANT/CNRS Images

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20090001_0178

Mesure, avec un banc de test sous pointes, de circuits intégrés microélectroniques pour les communic

Mesure, avec un banc de test sous pointes, de circuits intégrés microélectroniques pour les communications sans fil.

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