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Reference
20210158_0067
Nanostructure déposée sur un circuit imprimé et un échantillon identique préparé pour une caractérisation MEB
Nanostructure déposée sur un circuit imprimé (PCB) et un échantillon identique préparé en vue d’une caractérisation par microscopie électronique à balayage (MEB). Cette analyse permet de contrôler la conformité géométrique et dimensionnelle de la structure obtenue avec le prototype virtuel.
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